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一、SXJS-IV介質(zhì)損耗測(cè)試儀概況

本儀器是一種良好的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干擾能力強(qiáng)， 測(cè)試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn)，是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀。

二、SXJS-IV介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

 1、環(huán)境：-5℃～40℃（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)間日照）

 2、相對(duì)濕度：30%～70%

 3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±1Hz

 4、外形尺寸：長(zhǎng)*寬*高=500mm*300mm*400mm

 5、重量：28kg

 6、輸出功率：1.5KVA

 7、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）

 8、測(cè)試方法：正接法、反接法、外接試驗(yàn)電壓法

 9、測(cè)量范圍：內(nèi)接試驗(yàn)電壓：≤60000PF（10KV電壓大于30000PF）

          外接試驗(yàn)電壓：由外接試驗(yàn)變壓器輸出功率而定

10、基本測(cè)量誤差：

      介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±0.04%

電容容量（Cx）：1%±1pF

三、SXJS-IV介質(zhì)損耗測(cè)試儀結(jié)構(gòu)

儀器為升壓與測(cè)量一體化結(jié)構(gòu)，輸出電壓2.5KV～10KV五檔可調(diào)，以適應(yīng)各種需要，在測(cè)量時(shí)無需任何外部設(shè)備。接線與QSI電橋相似，但比其方便。

產(chǎn)品別名：高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀、介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x、變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀、抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀、介損測(cè)試儀、介質(zhì)損耗檢測(cè)儀、異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀、全自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀、SXJS-IV介損測(cè)試儀，介質(zhì)損耗測(cè)試儀、SXJS-IV介損測(cè)試儀，介質(zhì)損耗測(cè)試儀，介質(zhì)損耗測(cè)試儀。

儀器測(cè)量線路:

儀器測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路（Cn）和一被試回路（Cx）。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成，被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位等，再由單片機(jī)運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過矢量運(yùn)算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。

儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量。

控制面板：打印機(jī)、鍵盤、顯示和通訊中轉(zhuǎn)。變頻電源：采用SPWM開關(guān)電路產(chǎn)生大功率正弦波穩(wěn)壓輸出。

升壓變壓器：將變頻電源輸出升壓到測(cè)量電壓，大無功輸出2KVA/1分鐘。

標(biāo)準(zhǔn)電容器：內(nèi)Cn，測(cè)量基準(zhǔn)。

Cn電流檢測(cè)：用于檢測(cè)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容器電流，10μA～1A。輸入電阻<2Ω。

Cx正接線電流檢測(cè)：只用于正接線測(cè)量，10μA～1A。輸入電阻<2Ω。Cx反接線電流檢測(cè)：只用于反接線測(cè)量，10μA～1A。輸入電阻<2Ω。

反接線數(shù)字隔離通訊：采用精密MPPM數(shù)字調(diào)制解調(diào)器，將反接線電流信號(hào)送到低壓側(cè)。隔離電壓20KV。